微观结构研究单位

我们的微观结构研究部(MSSU),ag棋牌官网的电子显微镜设备,成立于1970年,以支持广泛的跨大学和提供服务行业以电子显微镜研究活动。

概观

经过40年的不断发展,我们采用经验的显微镜和容纳状态的最先进的工具,如,电子显微镜透射(TEM),扫描电子显微镜(SEM)和样品制备设备的全面范围。

我们单位是一个广泛的正在进行的研究项目,并作出显著贡献,本科生和研究生的教学至关重要。许多研究活动目前包括但纳米颗粒和纳米复合材料(所有设备类型),光电材料,冶金先进结构,金属与聚合物的界面研究等

合作

我们密切协作配合工作 表面分析实验室 在这所大学。国家的最先进的仪器相结合,在数据的解释和材料知识和经验丰富的学者专业知识,使技术人员,以便选择进行研究和开发相关的材料或解决技术问题的技术的正确组合。

这些工作包括产品开发,故障分析,过程中的问题,表面污染物,所述材料组合物的验证等等。

现有手段

下面列出的仪器都有,我们在这里的大学。如果你有兴趣在分析样本,请发送电子邮件然后部门经理, 大卫·琼斯.

日本电子JSM-7100F

日本电子JSM-7100F的是高度通用的,易于使用的分析场发射SEM以1.2纳米,在30千伏的空间分辨率。 MSSU显微镜装配有Thermo Scientific的三重分析系统,设有一个超干检测器编,以magnaray平行光束光谱仪和一个quasor WDS系统,用于电子背散射衍射(EBSD)。

所有三种分析功能被集成到单个的Noran系统7的系统数据,以允许之间的三个互补的技术集成。

日立S4000 SEM

日立S4000是高分辨率SEM显微镜用冷阴极场发射电子源(FESEM)。 ESTA SEM还具有用于原子对比度的固态背散射电子成像检测器。

它的易用性和高分辨率使这是一个非常通用的仪器对于许多用户的应用程序,称赞在MSSU其他可用显微镜。

飞利浦CM200 TEM

飞利浦CM200透射电子显微镜(TEM)以高达200 KV工作是一个非常通用的显微镜​​。共心的计算机控制的样品保持器可倾斜-45〜+ 45°沿着轴线和在-30℃至+ 30°沿B轴使得它可以完美衍射工作。

另外,CM200能达到0.14nm的线分辨率相同的持有人,不啻为一个专门的高分辨透射电子显微镜。此外超薄窗口附EDX检测器和电子能量损失光谱(EELS),以使真实CM200分析显微镜。

日立s3200n SEM

s3200n是日立我们最通用的仪器。它有一个大的样品室中,背散射电子探测器和可变压力模式(VP-SEM)允许的非导通和“湿”的样品在没有特殊的样品制备的检查。

结合超薄窗口能量色散X射线(EDX)检测仪进行定性/定量元素分析,ESTA SEM是研究问题的样本的所有方式,帮助我们的客户找到解决问题的方法,并让学生产生高一个主力质量的结果在科学技术的各个领域。

日立干hd2300a

hd2300a杆是一种高性能的FEG-STEM具有0.2nm的点分辨率。该仪器配有X射线分析(EDX)和平行鳗鱼(低原子序数和化学状态)光谱和成像设备。

我们如何能够帮助你

在过去的几年里,我们已经采取的工作时间超过50级不同的客户端。难道我们合作开发环节与当地社区,我们很自豪能够提供的服务,许多电子显微镜企业和在南方组织英格兰东部的技术研究。

我们的客户组合包括公共和私营行业和他们的风俗是高度重视。我们提供有竞争力的价格SEM,TEM茎和分析工作。

特别是如果你有问题,想研究赞助项目博士学位吃更多信息,如果学生能为你工作,然后 联系工作人员中的一员 在你感兴趣的领域。你也可以找到关于成为赞助商对我们的EngD过程的详细信息 EPSRC中心在微博士生的培养和纳米材料和技术(minmat) 网站。

表面分析技术可用于解决一个巨大的领域,其中一些下面列出了一系列的问题。

  • 粘合失效分析/剥离
  • 表面污染的识别
  • 清洗程序评估
  • 元素组成 - 本体和表面
  • 化学状态信息
  • 材料识别和验证
  • 纳米或微米颗粒分析
  • 薄膜分析
  • 金属钝化及腐蚀
  • 在金属晶界偏析
  • 表面偏析
  • 保护涂层和涂料
  • 污渍和变色识别的
  • 之前和各种功能的处理后的聚合物表面
  • 氧化膜的厚度
  • 超薄膜面厚度
  • 薄膜部件的深度剖面
  • 缺陷识别
  • 润滑剂,添加剂和污染物的分子鉴定
  • 催化。

该技术是破坏性的?

SEM,EDS,WDS和EBSD潜在非破坏性的技术,然而TEM / STEM需要先进的样品制备中,以所述样品显著变化引起。

的元件的最低检测浓度

在MOST EDS和WDS元件的最小检测浓度变化随着元件的原子序数,它是在该材料的性质。

每一个问题是我们的费用将取决于其独特的:

  • 所需的分析技术
  • 分析或信息所需要的电平
  • 样品制备的难度
  • 样品类型和采样数

因此,除非我们已经讨论您的需求,我们不能给出具体的报价。随着初步讨论然而我们的实验室经理将是免费的。

折扣

对于这些公司赞助,海安或博士博士研究生或我们的工程研究人员,折扣上给出了分析成本。需要仪器的时间折扣到5分析几天显著也适用。

例子

成本的变化的一个例子是,金属样品的在XPS分析在何处表面组合物时,才需要无任何化学状态信息可以更快,更容易地比当化学状态信息所要求的绝缘子的分析完成。

是另一示例随着我们的螺旋推运器的显微镜分析变化的成本,纳米颗粒的元素组成可以远快于的所得组合物的断裂断裂接口真空。

初步讨论

欢迎您参观实验室和人讨论您的需求,或者您也可以发送我们的部门经理,大卫·琼斯 一封电邮.

实验室工作人员将始终清楚我们的能力,设施,分析和结果的时间表可以从分析的期望。

鉴于是详细报价

如果决定继续与调查工作的建议和详细的报价的描述将被发送到您进行审批。

收集和发送您的样品

作为样品的表面是如此容易被污染,POR青睐,戴手套,安全地包裹新鲜样品在铝箔上,然后拉链袋样品在一个地方。如果以数字或其他参考清楚地标示个别样品,如果他们在一个批次发送。

样品可以是精密切割,安装在一个范围的材料,煤或镀金,抛光,以便适合于显微镜亚微米光洁度,SDBS,精密抛光和电解抛光离子。

我们的最大样本大小是由我们的设备的真空闸阀的大小来确定。对于EDS和WDS这是2x2x2的厘米。宽范围的样品制备的可以在现场进行,以确保样品是用于分析的合适的大小。

你可以把样品送到实验室在这里的人,或以邮递方式寄给我们:

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分析

典型地,分析完成后在接收到来自所述样品一到两周时。然而,如果需要的结果迫切然后匆忙就可以实现和分析在几天内完成。

接收数据

十一分析完成这被认为是收集的数据是您的财产和保密是。副本将被发送给您,原始文件可以存档最多无论是两年或按您的要求删除。您的样品可以返回如果您需要他们。

联系我们

如果你想使用我们的服务,请发送电子邮件至我们那么部门经理, 大卫·琼斯,要讨论你的问题。

研究

在我们的研究中心地址陶瓷,聚合物和金属,以及由两种或两种以上这些材料,并探讨一系列应用中正在使用这种材料公司推出新产品或改进性能的复合材料。

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